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X-RAY射线镀层测厚仪 牛津仪器

简要描述:X-RAY射线镀层测厚仪 牛津仪器是无损测厚仪,有着非破坏,非接触,多层合金测量,快速简洁只需要10秒即可得出测量结果,是质量控制、节约成本的Z佳检测工具。奔蓝科技供应英国牛津仪器所有零配件:
镀层测厚仪类:牛津光管、高压包、接收器、镀层标准片、Z轴控制板、24V电源等。。。
铜厚测厚仪类:孔铜探头、面铜探头、孔铜标准片、面铜标准片等。。。

  • 产品型号:MAXXI 5
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2017-03-19
  • 访  问  量:406

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详细介绍

X-RAY射线镀层测厚仪 牛津仪器  

产地:英国      型号:MAXXI 5     品牌:牛津仪器OXFORD

      牛津MAXXI5系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器,可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域,为产品质量控制提供准确、快速的分析。基于Windows 7中文视窗系统的中文版X - MasteR FP应用软件包,实现了对MAXXI 5主机的全面自动化控制,分析中不需要任何手动调整或手动参数设定。可同时测定zui多5层、20种元素。数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式,以满足您特定的分析报告格式要求;如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象等。统计功能提供数据平均值、误差分析、zui大值、zui小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图等多种数据分析模式。

     MAXXI5系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状、各种尺寸的样品;并且测量点zui小可达0.06*0.06毫米。

        MAXXI5系列采用开槽式样品室,它可提供二种规格的样品台供用户选用,分别为:

? 标准手动样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。
? 程控样品台:XYZ轴程序控制。
        X-RAY射线镀层测厚仪 牛津仪器                

MAXXI 5主要技术规格如下:

No. 主要规格 规格描述
1 激发系统 垂直从上至下照式光学系统
  牛津原产空冷式微聚焦型X射线管,Be窗
  标准靶材: W
  功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-标准
功率可编程控制
  装备有安全防射线光闸

2 截谱技术 提供先进的元素截谱技术,可分辨出相怜元素的信号,如Cu/Ni等元素,无需配置滤光片,从而达到优化信号强度的功能。
3 准直器程控交换系统 zui多可同时装配4种规格的准直器,程序切换控制
  多种规格尺寸准直器任选:0.3mm 或0.5mm或多准直器系统
-0.06 x 0.06mm, 0.05 x 0.15mm, 0.1mm,0.2mm Ø
4 测量斑点尺寸 在35mm聚焦距离时,zui大测量斑点尺寸为:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器)

5 X射线探测系统 封气正比计数器
  装备有峰漂移自动校正功能的高速信号处理电路
6 样品室  
 -样品室结构 开槽式样品室 
 -样品台尺寸 500mm x600mm(手动台) 300mm x250mm(自动台)
 -XY轴程控移动范围 标准:300 x 250mm
 -Z轴程控移动高度 170mm 程控平台, 170mm
手动平台,  350mm
 -XYZ三轴控制方式 多种控制方式任选:XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制
 -样品观察系统 高分辨、彩色、实时CCD观察系统,标准放大倍数为20倍。
  激光辅助定位功能
  可变焦距控制功能和固定焦距控制功能(选配)
  光学自动聚焦功能
7 计算机系统配置 德国随主机配置电脑主机,配置不低于2048道连续近处理ADC(数模转换器),计算机压缩为512个通道。台式或直立式机箱电脑先进的中央处理器,例如IN Pentium or AMD Athlon。HDD, DVD-ROM, RAM,键盘,鼠标

8 分析应用软件 操作系统:Windows7.0中文平台
分析软件包:X-MasteR FP软件包
 -无标样分析程序 Fun- MasteR
应用程序向导。在无标样情况下使用基本参数法生成厚度测量应用。简单,三步模式创建一个新的应用,无需使用标准样品。避免大量,昂贵的厚度标准片。

 -测厚范围 可测定厚度范围:取决于您的具体应用。不同元素不同应用设备Fun-MasteR提示厚度测试范围
 -基本分析功能 无标样检量线测厚,可采用一点或多点标准样品自动进行基本参数方法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。
  样品种类:镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)
  可检测元素范围:Ti22 – U92
  可同时测定5层/20种元素/共存元素校正
  组成分析时,可同时测定20种元素
  贵金属检测,如Au karat评价(选配)
  材料和合金元素分析
  材料鉴别和分类检测(选配)
  液体样品分析,如镀液中的金属元素含量(选配)
  元素光谱定性分析
 -调整和校正功能 系统自动调整和校正功能:校正X射线管、探测器和电子线路的变化对分析结果的影响,自动消除系统漂移
  谱峰计数时,峰漂移自动校正功能
  谱峰死时间自动校正功能
  谱峰脉冲堆积自动剔除功能
  标准样品和实测样品间,密度校正功能
  谱峰重叠剥离和峰形拟合计算
 -测量自动化功能 鼠标激活测量模式:“Point and Shoot”
  多点自动测量模式:多点顺序和重复测量模式
  自动对焦功能
 -样品台程控功能 可通过鼠标或是遥控杆控制XYZ轴,可通过XYZ-Stage设定多
点测试程序。
 -统计计算功能 平均值、标准偏差、相对标准偏差、zui大值、zui小值、数据变动范围、CP、CPK、控制上限图、控制下限图
  数据库存储功能,可存储带样品图像的Word报告,模板客户可自定义。
  任选软件:统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书
 -系统安全监测功能 Z轴保护传感器
  样品室门开闭传感器
  操作系统多级密码操作系统:操作员、工程师

吴生:151九零一九4078  

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