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微先锋镀层测厚仪的功能分析

发布时间:2019-05-16      点击次数:1127
    Micro Pioneer XRF-2000R X光镀层测厚仪及ROHS元素分析仪是在XRF-2000系列测厚仪的基础上增加了元素分析及有害物质检测的功能,其物点为:高分辨率,固态探测器。主要应用测量镀金、涂层、薄膜、元素的成分或者是厚度,其可侦测元素的范围:Ti(22)~U(92 )。 自动过滤器,多准直仪(五个准直器,从0.1mm-3.0mm)和全自动XYZ移动样品台;性价比超强的元素分析及镀层测厚双功能分析仪器

微先锋镀层测厚仪的功能:

1.相容Microsoft微软作业系统之测量软体,操作方便,直接可用Office软体编辑报告。

2.标準ROI软体搭配内建多种专业报告格式,亦可将数据、图形、统计等作成完整报告。

3.可测量高达六层的镀层(五层厚度底材) 并可同时分析多种元素。

4.移动方式:全系列全自动载台电动控制,减少人为视差。

5.全系列独特设计样品与光径自动对準系统。

6.非破坏,非接触式检测分析,快速精準。

7.準直器口径多种选择,可根据样品大小来选择準值器的口径。

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